Microscopia Elettronica in Scansione (SEM)
V edizione
Lecco c/o Politecnico di Milano - 26-27 maggio 2026
La microscopia elettronica a scansione è uno strumento fondamentale non solo nella ricerca ma anche nello sviluppo e nel controllo qualità; consente di accedere a dettagli e informazioni microstrutturali non ottenibili con altre metodiche.
In un contesto sempre più competitivo nell'ambito della qualità e dello sviluppo di nuove soluzioni, è una tecnica di indagine fondamentale. Tuttavia, è indispensabile avere le informazioni di base di questa tecnica per non incorrere in errori nella pianificazione delle indagini e nell'interpretazione dei risultati.
Perché partecipare?
- È un’opportunità concreta per le aziende per comprendere a fondo la tecnica e capire quando utilizzarla per creare valore, sia integrandola internamente sia affidandosi a partner qualificati come università e centri di ricerca.
- Per l’università e la ricerca è un’occasione strategica per ampliare competenze e visione nel campo dei materiali metallici, favorendo crescita professionale, nuove collaborazioni e innovazione.
A chi è rivolto?
L’iniziativa si rivolge in particolare a tecnici, ingegneri, qualità e R&D, ricercatori e dottorandi, ma anche con coloro che trattano lo studio dei materiali metallici sia in fase di sviluppo che di processo.
Coordinatori del corso:
Paola Bassani, Giuliano Angella
Per informazioni ed iscrizioni:
info@aimnet.it | 02 76021132
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