Microscopia elettronica applicata alla failure analysis
Campogalliano MO c/o Tec Eurolab - 7 novembre 2024
Il microscopio elettronico a scansione è uno strumento ormai molto diffuso e sempre più alla portata dei tecnici che si occupano di test sui materiali. Il suo successo è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico. L’analisi in microscopia elettronica a scansione è spesso risolutiva nei casi di Failure Analysis.
La Giornata di Studio nasce dall’esigenza di condividere e diffondere l’esperienza e la conoscenza delle applicazioni di questa tecnica in ambito metallurgico e in particolare alla Failure Analysis, per permettere agli operatori di sfruttare nel miglior modo possibile le potenzialità dello strumento. La tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis ed è fondamentale per distinguere le modalità di rottura di un componente basandosi sulla morfologia della frattura.
La giornata di studio è indirizzata a tutti coloro abbiano già acquisito le nozioni di base della microscopia elettronica a scansione e siano interessati ad approfondire le applicazioni pratiche in ambito Failure Analysis. Il programma della
giornata parte da un’introduzione in cui verrà esposta la differenza fra fra microscopia ottica ed elettronica e si svilupperà poi attraverso l’esposizione di casi pratici di applicazione di microscopia SEM e microanalisi EDS, anche in accoppiamento con altre tecniche, fino a concludersi con una visita presso il laboratorio.
Coordinatori della Giornata:
Francesca Bisaglia – RTM Breda
Michele Sale – TEC Euroloab
Per informazioni ed iscrizioni:
spedizioni@aimnet.it | 02 76021132