Microscopia Elettronica In Scansione Per Metallurgisti

 

Con l’avvento e la diffusione di nuovi Microscopi Elettronici a Scansione (SEM), più compatti, e di semplice utilizzo, il ricorso al SEM sta diventando sempre più frequente non solo in ambito accademico, ma anche in ambito industriale, nel controllo qualità e nelle indagini sulle failures. La microscopia elettronica in scansione, però, non è ‘solo’ una tecnica di microscopia che ha un elevato potere risolutivo, consentendo di vedere anche dettagli nanometrici. Può infatti fornire anche un’ampia gamma di informazioni microanalitiche aggiuntive ottenibili variando le modalità di osservazione e i rilevatori utilizzati. 

Con il SEM è possibile indagare la morfologia nella micro- e nano-scala di superfici piane o variamente strutturate, e valutarne la composizione, qualitativamente, con segnali con elettroni retrodiffusi (Back-Scattered Electrons – BSE) o in maniera più precisa con la spettroscopia a dispersione di energia e di lunghezza d’onda (EDS e WDS), ma anche la struttura cristallografica con la tecnica a diffrazione da elettroni retrodiffusi (EBSD). Inoltre l’evoluzione tecnologica ha ampliato la gamma delle soluzioni operative, rendendo possibile l’osservazione di campioni sottili in trasmissione (STEM), o l’osservazione di campioni anche non conduttivi a pressioni prossime a quelle ambiente (Enviromental-SEM).

Tuttavia, le potenzialità di un SEM possono non essere sfruttate pienamente, qualora non si abbia una adeguata conoscenza della struttura di questo strumento e dei limiti delle varie tecniche di osservazione: l’importanza di un corretto allineamento dello strumento è spesso sottovalutata, come anche la mancanza di conoscenza dei fondamenti della fisica dell’interazione degli elettroni con la materia e delle tecniche di acquisizione dei vari segnali, può portare ad una erronea interpretazione dei risultati o limitare la piena fruizione delle  potenzialità dello strumento. Inoltre anche la modalità di preparazione dei campioni deve essere appropriata per non limitare l’indagine ed ottenere informazioni attendibili. 

Con questa iniziativa, alla terza edizione, il Comitato Tecnico di Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali dell’AIM organizza un Corso in cui si forniscono ai partecipanti le basi teoriche e pratiche di un corretto utilizzo del SEM, e l’introduzione alle molteplici tecniche di analisi ad esso integrate. L’iniziativa si rivolge a quanti, nel mondo industriale e nella ricerca, vogliono affrontare la microscopia elettronica in scansione con maggior consapevolezza, in quanto operatori ed utilizzatori diretti del SEM, oppure perché fruitori dei risultati prodotti.

Il Corso si svolgerà in due giornate consecutive presso le sedi di Milano e Lecco del CNR - Istituto ICMATE. Nelle due giornate verranno affrontati gli aspetti teorici dello strumento e delle varie tecniche di analisi, e applicazioni pratiche a casi studio affrontati con differenti tipologie di strumenti.

 

Coordinatori del Corso: Giuliano Angella e Paola Bassani

 

Per informazioni ed iscrizioni: spedizioni@aimnet.it / t. 02 76021132